手持式X射线荧光光谱仪​为铜矿物鉴定工作带来了方便

　　手持式X射线荧光光谱仪是具有很高速元素分析能力的手持式光谱分析仪，可满足多种金属基体材料以及土壤，塑胶，矿石等多种复杂材料的光谱化学成分分析需要。以其快速的分析速度，媲美实验室级的分析精度和便于操作的特点为同类型手持式光谱分析仪设立了新的标准。在大多数应用场合，如金属牌号鉴别，它可以在区区两秒的分析时间内给出金属牌号以及实验室级的材料化学组成分析结果。而对于复杂基体分析如环境监测分析，无需复杂的样品前处理，即可取得同类设备无法取得的低的元素检测下限。

　　一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素 （F）到92号元素（U）。

　　铜矿物在自然界存在形式多样，有原生带次生富集带和氧化带等，共生矿物和伴生矿物众多，各类矿物均存在类质同象或者镜下光学特征相似的现象，传统的岩矿鉴定方法利用偏光、反光显微镜或实体显微镜等设备难以鉴别，对于此类矿物的鉴别需要借助化学分析方法或微区分析技术。

　　微区分析技术（电子探针、同步辐射、全反射微区分析）已在地质、环境、考古和材料科学等领域获得了应用。在半导体材料方面，微探针和同步辐射技术为掺杂元素的行为研究提供了新的方法：在考古方面应用微区能量色散x射线荧光元索成像法测定陶瓷中重金属元素；在地质学方面，应用x射线荧光光谱（XRF）微区分析技术分析陨石；应用微束X射线荧光微区测定了铀矿石；应用微束微区X荧光探针分析仪检测心矿石内的矿物颗粒。

　　带微区分析功能的手持式X射线荧光光谱仪具有价格相对便宜、稳定性好，分析速度快、分辨率高等优点，测区面积可根据需要鉴定矿物的大小进行调整，实现原位分析。可以应用该技术测定薄膜里的元素分布情况以及鉴定铅锌矿石和钨矿石。通过研究待鉴定矿物的测量条件（分析线、能量窗口），测量方式（滤光片样品自旋）和干扰校正模型（重叠干扰基体效应），建立了铜矿石类质同象物相的鉴定方法，获取了矿物的微区原位化学成分、含量及元素赋存状态特征。该方法为铜矿物的鉴定工作提供了一种快速便捷的手段，而且为矿产综合利用工作提供了有价值的信息。